[2025 e4ds Tech Day]NI 성웅용 이사, “다이나믹 신뢰성 테스트로 고전력 반도체 수명 예측 완료”

전기차 등 각종 산업에서 반도체 고장은 생명과 직결될 수 있어 신뢰성 확보가 필수이며, 수명 예측이 무엇보다 중요하다. 이에 다양한 스트레스 조건을 반영해 테스트 한 후 물리적 분석을 통해 설계나 공정 변경 여부를 결정하는 것이 중요하다. 이를 위해서는 반도체 수명 예측을 위한 믿을 수 있는 테스트 솔루션이 필요하다. 이와 관련해 NI에서는 오는 9월9일 ‘2025 e4ds Tech Day’에서 ‘고전력 반도체 다이나믹 신뢰성 테스트 솔루션’에 대해 발표할 예정이다. 이에 본지는 발표를 진행하는 NI 성웅용 이사와 만나 다이나믹 신뢰성 테스트 솔루션에 대해 들어봤다.