차세대 DDR/LPDDR 메모리 분석 솔루션(인트로스펙트)

Jays / 제이스 / Mohamed Hafed CEO

웨비나정보 웨비나Q&A

양*영2026-05-19 오전 10:38:43
안녕하세요 유익한정보 기대하겠습니다
주*홍2026-05-19 오전 10:38:27
반갑습니다.
JAYS32026.05.19
안녕하세요. 참석해주셔셔 감사합니다.
김*석2026-05-19 오전 10:37:45
반갑습니다
지*호2026-05-19 오전 10:33:01
안녕하세요.
e4ds2026.05.19
안녕하세요. 웨비나에 참여해 주셔서 감사합니다.
최*휴2026-05-19 오전 10:30:55
[질문] 메몰 컨트롤러와 메모리 연결시 인터포저보드가 필요한데요, 인터포저보드를 메모리컨드롤러 or 메모리에 직접적으로 일체화 할 수는 없나요? 왜 인터포저 보드를 사용해야하는지 잘 모르겠습니다. 설명 부탁 드립니다.
이*재2026-05-19 오전 10:26:52
안녕하세요
JAYS32026.05.19
안녕하세요. 참석해주셔셔 감사합니다.
최*휴2026-05-19 오전 10:22:39
세미나 기대합니다.
최*휴2026-05-19 오전 10:21:07
[질문] HBM의 2.5D/3D 구조 및 LPDDR6의 ultra-low swing signaling 환경에서는 관측 지점(access point)이 매우 제한적입니다. 패키지 내부 또는 TSV 기반 구조에서 직접 probing이 어려운 상황에서, 해당 솔루션은 실제 사용하는 measurement topology와 접근 방식을 어떻게 구성하며, 이 방식이 silicon correlation(실제 동작과의 일치성)을 어떻게 보장하나요?
최*휴2026-05-19 오전 10:20:42
[질문] 측정 장비에 의한 왜곡 vs 실제 SI 문제 구분 능력 고속 메모리 환경에서는 측정 결과에 나타난 jitter/ISI가 실제 채널 문제인지, 측정 체인의 artifact인지 구분하는 것이 핵심입니다. 해당 솔루션은 측정 시스템 자체에서 발생하는 jitter, bandwidth limitation, reflection 등을 어떻게 de-embed 또는 calibration하여 “측정기 기인 왜곡”과 “실제 SI 문제”를 명확히 분리합니까?
주*원2026-05-19 오전 10:20:19
안녕하세요 유익한 강의 기대합니다
JAYS42026.05.19
안녕하세요! 웨비나에 참여해 주셔서 감사합니다!